ConclusionsIn this paper we obtaine

Conclusions
In this paper we obtained the highest test temperature to accelerate the life of the LED devices from the step
stress test, and the temperature could effectively shorten
the test time, without any new failure mode imported. The
higher test temperature could accelerate the degradation at
the early period of test, and with a consistent variation
between different levels at the later period of the
experiment. The high temperature test could fully explain
the degradation trend of life.
Making use of the data obtained through the reliability
test of LED products, we could determine the point
estimate and lower limiting value of the mean time to
failure with the specified confidence coefficient. The
formulas in 2.2 could also be used for the data gotten from
field use conditions, such as the actual ignition time and
the number of failure products, evaluated the mean time to
failure of LED products under the practical operating
conditions.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บทสรุปในเอกสารนี้ เราได้ทดสอบอุณหภูมิสูงสุดการเร่งอายุของอุปกรณ์ LED จากขั้นตอนทดสอบ และอุณหภูมิอาจลดระยะเวลาได้อย่างมีประสิทธิภาพทดสอบเวลา โหมดความล้มเหลวใด ๆ ใหม่ที่นำเข้าโดยไม่ การทดสอบอุณหภูมิสูงสามารถเร่งการย่อยสลายที่ช่วงยุคแรก ของการทดสอบ และ มีรูปแบบสอดคล้องกันระหว่างระดับต่าง ๆ ในระยะหลังนี้ทดสอบ ทั้งหมดสามารถอธิบายการทดสอบอุณหภูมิสูงแนวโน้มการลดลงของชีวิตการใช้ข้อมูลที่ได้ผ่านความน่าเชื่อถือทดสอบผลิตภัณฑ์ LED เราสามารถกำหนดจุดประเมิน และลดค่าจำกัดของเวลาหมายถึงอะไรความล้มเหลวที่ มีค่าสัมประสิทธิ์ความเชื่อมั่นที่กำหนด การยังสามารถใช้สูตรใน 2.2 สำหรับข้อมูลอากาศจากฟิลด์ใช้เงื่อนไข เช่นเวลาจุดระเบิดที่เกิดขึ้นจริง และจำนวนความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ เวลาเฉลี่ยในการประเมินความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ภายใต้การดำเนินงานจริงเงื่อนไข

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ข้อสรุป
ในบทความนี้เราได้รับที่สูงสุดอุณหภูมิทดสอบเพื่อเร่ง (TM) ที่ชีวิตของที่อุปกรณ์นำมาจากที่ขั้นตอน
การทดสอบความเครียดและที่อุณหภูมิได้อย่างมีประสิทธิภาพสามารถร่น
ที่ The เวลาในการทดสอบโดยไม่โหมดความล้มเหลวใหม่ใหม่ ๆ ที่นำเข้า. ที่
ในพื้นที่ของ COMMUNICAITIONS อุณหภูมิทดสอบสามารถเร่ง (TM) ที่สลาย AT
ในช่วงต้น ๆ ของการทดสอบและมีรูปแบบที่สอดคล้องกัน
ระหว่างระดับที่แตกต่างกันที่ต่อมาเป็นระยะเวลาที่ The
Experiment. ที่อุณหภูมิสูงการทดสอบอย่างเต็มที่สามารถอธิบาย
ที่เทรนด์การย่อยสลายของชีวิต.
การใช้ประโยชน์จากข้อมูลที่ได้รับผ่านที่ความน่าเชื่อถือของ
การทดสอบของผลิตภัณฑ์ LED ของเรา สามารถกำหนดที่จุด
ประมาณการและจ้อง จำกัด มูลค่าของที่หมายถึงเวลาที่จะ
ล้มเหลวที่มีค่าสัมประสิทธิ์ความเชื่อมั่นระบุ. ที่
สูตรใน 2.2 นอกจากนี้ยังสามารถนำมาใช้สำหรับข้อมูลของอากาศจาก
สนามใช้เงื่อนไขเช่นในเวลาที่เกิดขึ้นจริงเวลาการเผาไหม้และ
ที่จำนวนของผลิตภัณฑ์ความล้มเหลวของ ประเมินผลการเชื่อมโยงภายนอกที่หมายถึงเวลาในการ
ล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ LED ของที่และเภสัชกรรมภายใต้การดำเนินงาน
เงื่อนไข

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่. . . . . . . ซึ่งในความเป็นจริง . . . . . . เรา obtained ทดสอบอุณหภูมิของไฟ LED . . . accelerate devices จากขั้นตอนที่เมื่อทดสอบและอุณหภูมิที่สามารถ effectively shortenทดสอบโดยไม่มีการใดๆที่เวลาใหม่ . . . . . . . . . imported โหมดความล้มเหลวเราอาจจะ accelerate ทดสอบอุณหภูมิที่ degradation atสำหรับระยะเวลาของ " " a variation ที่สอดคล้องกันและ . . . . . . .คนต่อมาเป็นอย่างดีระหว่างที่ระยะเวลาของ .. . . . . . . " " " ผมพอใจอย่างเต็มที่ทดสอบอุณหภูมิสูงของ degradation กว่า . . . . . . . . .ข้อมูลที่ใช้ในการสร้างของ obtained ผ่าน reliabilityทดสอบไฟ LED ของ products เราอาจบางทีที่จุดการประเมินค่าและนักสืบจำกัดของเวลาที่จะได้ยิน. . . . . . . . . . . . . . . . . . coefficient ความล้มเหลวและความ .formulas ใน 2.2 อาจจะใช้สำหรับการเข้าถึงข้อมูลจาก gottenเงื่อนไขที่ใช้ใน field จริงเช่นเวลาและจุดระเบิดหมายเลขของความล้มเหลว products , evaluated หมายถึงเวลาที่จะ . . .ความล้มเหลวของไฟ LED โดยมี operating ภายใต้ .เงื่อนไข . . . . . . .