ConclusionsIn this paper we obtaine

Conclusions
In this paper we obtained the highest test temperature
to accelerate the life of the LED devices from the step
stress test, and the temperature could effectively shorten
the test time, without any new failure mode imported. The
higher test temperature could accelerate the degradation at
the early period of test, and with a consistent variation
between different levels at the later period of the
experiment. The high temperature test could fully explain
the degradation trend of life.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บทสรุปในเอกสารนี้ เราได้ทดสอบอุณหภูมิสูงสุดการเร่งอายุของอุปกรณ์ LED จากขั้นตอนทดสอบ และอุณหภูมิอาจลดระยะเวลาได้อย่างมีประสิทธิภาพทดสอบเวลา โหมดความล้มเหลวใด ๆ ใหม่ที่นำเข้าโดยไม่ การทดสอบอุณหภูมิสูงสามารถเร่งการย่อยสลายที่ช่วงยุคแรก ของการทดสอบ และ มีรูปแบบสอดคล้องกันระหว่างระดับต่าง ๆ ในระยะหลังนี้ทดสอบ ทั้งหมดสามารถอธิบายการทดสอบอุณหภูมิสูงแนวโน้มการลดลงของชีวิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ข้อสรุป
ในบทความนี้เราได้รับที่สูงสุดอุณหภูมิทดสอบ
เพื่อเร่ง (TM) ที่ชีวิตของที่อุปกรณ์นำมาจากที่ขั้นตอน
การทดสอบความเครียดและที่อุณหภูมิได้อย่างมีประสิทธิภาพสามารถร่น
ที่ The เวลาในการทดสอบโดยไม่โหมดความล้มเหลวใหม่ใหม่ ๆ ที่นำเข้า. ที่
ในพื้นที่ของ COMMUNICAITIONS อุณหภูมิทดสอบสามารถเร่ง (TM) ที่สลาย AT
ช่วงแรกของการทดสอบที่การเปลี่ยนแปลงที่สอดคล้องกันและด้วย
ระหว่าง AT ในระดับที่แตกต่างกันต่อมาเป็นระยะเวลาที่
ทดลอง. สามารถทดสอบที่อุณหภูมิสูงอย่างอธิบาย
ที่เทรนด์การย่อยสลายของชีวิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่. . . . . . . ซึ่งในความเป็นจริงที่เรา obtained ทดสอบสัมประสิทธิ์อุณหภูมิ. . . . . . . accelerate LED จากขั้นตอนของ devicesเมื่อทดสอบและอุณหภูมิที่สามารถ effectively shortenทดสอบโดยไม่มีการใดๆที่เวลาใหม่ . . . . . . . . . imported โหมดความล้มเหลวเราอาจจะ accelerate ทดสอบอุณหภูมิที่ degradation atสำหรับระยะเวลาของ " " a variation ที่สอดคล้องกันและ . . . . . . .คนต่อมาเป็นอย่างดีระหว่างที่ระยะเวลาของ .. . . . . . . " " " ผมพอใจอย่างเต็มที่ทดสอบอุณหภูมิสูงของ degradation กว่า . . . . . . . . .