AbstractAs a kind of electronic pro

Abstract
As a kind of electronic products, the failure rate of LED products follows the traditional bathtub curve.
Corresponding to the different regions in the failure rate
curve of the LED products, this paper proposes two
different lifetime evaluation methods. In the first method,
the lumen maintenance lifetime of the LED device is
estimated by only considering the failure of lumen
maintenance, corresponding to the aging failure stage.
The L70 lifetime, indicating the time when the lumen
maintenance of the LED product degrades to 70% of its
initial value, can be estimated through an accelerated life
test with a high temperature stress. Then the L70 lifetime
of the LED product under the normal operating condition
is calculated based on the accelerated test data by using
the degradation coefficient method. It is shown that a
suitable temperature stress in accelerated test will not
create other failure modes in the test LED lamp, and
therefore can reduce the test time to estimate the mean
replacement period of a batch of lamps. The other method
is proposed in correspondence to the accidental failure
stage of the LED product. In this case, it is assumed that
the lifetime of the LED product follows an exponential
distribution. Then the average life expectancy under the
normal operating condition, mean time to failure (MTTF)
of LED devices and not repairable lamps can be estimated
from the point estimates and confidence intervals from the
experimental data of certain reliability tests. From the
experimental results, it is proved that more accurate
reliability and lifetime expectancies of both the LED
devices and products are addressed from the point
estimates and confidence intervals calculations.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บทคัดย่อเป็นชนิดของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ อัตราความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ LED ตามโค้งอ่างอาบน้ำแบบดั้งเดิมที่สอดคล้องกับภูมิภาคต่าง ๆ ในอัตราความล้มเหลวเส้นโค้งของผลิตภัณฑ์ LED กระดาษนี้เสนอสองวิธีการประเมินอายุการใช้งานที่แตกต่างกัน ในวิธีแรกมีอายุการใช้งานการบำรุงรักษาลูเมนของอุปกรณ์ LEDประมาณการโดยเฉพาะ ความล้มเหลวของลูเมนการบำรุงรักษา ที่สอดคล้องกับขั้นตอนล้มเหลวอายุL70 อายุการใช้งาน ระบุเวลาเมื่อเซลล์การบำรุงรักษาของผลิตภัณฑ์ LED ลดถึง 70% ของการค่าเริ่มต้น สามารถประเมินผ่านอายุการใช้งานเร่งทดสอบกับความเครียดอุณหภูมิสูง แล้ว L70 อายุการใช้งานผลิตภัณฑ์ LED ภายใต้สภาวะการทำงานปกติคำนวณตามข้อมูลการทดสอบการเร่ง โดยใช้วิธีสัมประสิทธิ์การย่อยสลาย มันแสดงให้เห็นว่าการความเครียดอุณหภูมิที่เหมาะในการทดสอบการเร่งจะไม่สร้างอื่น ๆ โหมดความล้มเหลวในการทดสอบหลอดไฟ led และดังนั้น สามารถลดเวลาในการทดสอบการประเมินหมายถึงช่วงเวลาเปลี่ยนของชุดโคมไฟ วิธีการอื่น ๆนำเสนอในการติดต่อความล้มเหลวโดยไม่ตั้งใจขั้นตอนของผลิตภัณฑ์ LED ในกรณีนี้ มันจะสันนิษฐานที่อายุการใช้งานของผลิตภัณฑ์ LED ตามการเนนการกระจายงาน แล้วอายุเฉลี่ยของประชากรภายใต้การสภาพการทำงานปกติ เวลาความล้มเหลว (MTTF)ของ LED อุปกรณ์และหลอดไฟที่ไม่สามารถซ่อมแซมได้โดยประมาณจากการประเมินจุดและช่วงความเชื่อมั่นจากการข้อมูลทดลองทดสอบความน่าเชื่อถือบางอย่าง จากการผลการทดลอง จะพิสูจน์ที่ถูกต้องมากขึ้นexpectancies ความน่าเชื่อถือและอายุการใช้งานของไฟ LED ทั้งสองอุปกรณ์และผลิตภัณฑ์ที่ระบุจากจุดการคำนวณประมาณการและช่วงความเชื่อมั่น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บทคัดย่อ
ของเป็นชนิดของสินค้าอิเล็กทรอนิกส์ของในอัตราความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ LED ดังนี้ที่ The Curve อ่างอาบน้ำแบบดั้งเดิม.
สอดคล้องกับที่พื้นที่ที่ต่างกันในอัตราความล้มเหลว
โค้งที่ไฟ LED ผลิตภัณฑ์ของกระดาษนี้นำเสนอสอง
อายุการใช้งานที่แตกต่างกันวิธีการประเมินผล. ในที่วิธีแรก
ที่ อายุการใช้งานบำรุงรักษาลูเมนของที่อุปกรณ์ LED เป็น
ประมาณโดยเฉพาะการพิจารณาที่ความล้มเหลวของ Lumen
บำรุงรักษาที่สอดคล้องกับที่ริ้วรอยความล้ม.
ที่ L70 อายุการใช้งานแสดงให้เห็นในเวลาเมื่อที่ Lumen
การบำรุงรักษาของที่เสื่อมคุณภาพผลิตภัณฑ์ LED ถึง 70% ของ ITS
ค่าเริ่มต้นที่สามารถ จะถูกประเมินผ่านเร่งชีวิต
การทดสอบที่มีความเครียดอุณหภูมิสูง. แล้วที่ L70 อายุการใช้งาน
ของที่ผลิตภัณฑ์ LED ภายใต้ที่สภาพการทำงานปกติ
คำนวณจากที่เร่งการทดสอบข้อมูลโดยใช้
ที่วิธีการย่อยสลายค่าสัมประสิทธิ์. มันแสดงให้เห็นว่า
ความเครียดอุณหภูมิที่เหมาะสมใน เร่งการทดสอบจะไม่
สร้าง mode_value ความล้มเหลวอื่น ๆ ในที่ The ทดสอบหลอดไฟ LED และ
ดังนั้นจึงสามารถลดที่ The เวลาในการทดสอบเพื่อประมาณการที่หมายถึง
ระยะเวลาการเปลี่ยนชุดของโคมไฟ. ที่วิธีการอื่น ๆ
มีการเสนอในการติดต่อไปที่ความล้มเหลวอุบัติเหตุ
ขั้นตอนของการที่ผลิตภัณฑ์ LED ในกรณีนี้มันจะสันนิษฐานว่า
ที่อายุการใช้งานของที่สินค้าไฟ LED ดังนี้ชี้แจง
การแพร่กระจายของ. แล้วที่อายุขัยเฉลี่ยภายใต้ที่
สภาพการทำงานปกติ Mean Time ที่จะล้มเหลว (MTTF)
ของอุปกรณ์ LED และไม่โคมไฟปรับปรุงสามารถประมาณได้
จากที่จุด และช่วงความเชื่อมั่นจากที่ประมาณการ
ข้อมูลการทดลองทดสอบความน่าเชื่อถือบางอย่าง. จากที่
ผลการทดลองจะพิสูจน์ว่าถูกต้องเพิ่มเติม
ความน่าเชื่อถือและอายุการใช้งานความคาดหวังของทั้งสอง LED ที่
อุปกรณ์และผลิตภัณฑ์ที่ได้รับจากการจ่าหน้าที่จุด
ประมาณการและการคำนวณช่วงความเชื่อมั่น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นามธรรมเป็นชนิดของอิเล็กทรอนิกส์ products , อัตราการล้มเหลวของ LED 3 . . . . . . . bathtub products ได้รับแบบดั้งเดิมCorresponding regions ที่แตกต่างในอัตราความล้มเหลว3 . . . . . . . ของ LED proposes products , กระดาษ 2อายุ . . . . . . . เพื่อที่แตกต่างในวิธีการที่ 1 วิธีการที่ ,อายุของหลอด LED ที่ lumen maintenance device . . . . . . .คาดว่าโดยพิจารณาความล้มเหลวของ lumen เท่านั้น . .corresponding maintenance และอายุ . . . . . . . ยังอยู่ที่ล้มเหลว" " L70 indicating อายุและเวลาที่เมื่อ lumen .. . . . degrades maintenance ของ LED ผลิตภัณฑ์ของตน 70%- สามารถคาดว่าจะเป็นค่าผ่าน accelerated .. . . . . . . . . . . . . . . . ทดสอบอุณหภูมิสูงๆแล้ว L70 อายุ . . .ไฟ LED ของผลิตภัณฑ์ภายใต้เงื่อนไขปกติ operating .หา . . . . . . . . . accelerated ทดสอบบนพื้นฐานของข้อมูลโดยการใช้. . . . . . . . . . . . . . . . . มันเป็นวิธีที่แสดง degradation coefficient Bเมื่อ accelerated suitable อุณหภูมิในการทดสอบจะไม่อื่นๆ modes สร้างความล้มเหลวในการทดสอบและโคมไฟ LED ,ที่ดังนั้นสามารถลดเวลาที่จะทดสอบหมายถึงการประเมิน .เปลี่ยนระยะเวลาของชุดของ " " A . . . . . . . พลิกๆ method. . . . . . . . . . . . . . proposed ใน correspondence accidental ความล้มเหลวยังอยู่ . . . . . . . . . . . . . . ของผลิตภัณฑ์ LED ในกรณีที่ assumed มัน . . . . . . .อายุของผลิตภัณฑ์ LED ที่ได้รับเป็น exponentialที่นี่ . . . . . . . . . . . . เห็นแล้ว expectancy ภายใต้ปกติ operating ซึ่งหมายถึงเวลาที่จะล้มเหลว ( MTTF )devices ของ LED และไม่ได้ repairable สามารถคาดว่าจะพลิกจากจุด estimates และความมั่นใจจาก intervals. . . . . . . reliability ของการที่สามารถแยกข้อมูลจาก . . .การที่ผลมันมีทุกอย่างที่เราทำมัน . . . . . . . .reliability และอายุของทั้งสอง expectancies LED .devices และจากจุด addressed products .estimates และความ intervals calculations . . . . . . .